ВНИИМ принял делегацию Китайского национального института метрологии

Делегация Китайского национального института метрологии (NIM) посетила ФГУП «ВНИИМ им. Д.И.Менделеева» в четверг, 1 октября. Во время встречи стороны обсудили вопросы сотрудничества двух научных организаций в рамках Меморандума о взаимопонимании, подписанного в 2013 году. Китайские гости также познакомились с работой отделов и посетили Метрологический музей Росстандарта.

Возглавил делегацию директор NIM Фан Сян. Его сопровождали руководитель отдела механики и акустики Жан Юэ, замруководителя отдела системы качества и метрологических услуг Жу Мэйна, замруководителя отдела оптики Линь Яндон и замруководителя отдела научно-технического управления и международного сотрудничества Ван Ю.

Российскую сторону представляли директор ВНИИМ Николай Ханов, его заместитель по международным работам Юрий Кустиков, руководитель отдела международного сотрудничества и взаимного признания Алексей Дятлев, ученый секретарь Никита Звягин, а также руководители ряда отделов государственных эталонов.

Делегации NIM передали для изучения предложения по темам сотрудничества, которые предполагают взаимовыгодные контракты. Фан Сян выразил руководству ВНИИМ глубокую благодарность за организацию и проведение приема и пригласил их совершить ответный визит для подписания возможных соглашений.